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工業相機檢測芯片表面臟污-度申科技
發布時間:2018-12-12
來源:度申科技
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      云南快乐十分钟彩票檢測芯片表面臟污,芯片表面為高反光鏡面,因此采用低角度光形成暗場照明,把表面的雜質打亮,由于芯片的高反光特性,普通環形光會出現“漏燈”現象。

實物圖


效果圖